检测方法 ：

超高频法和超声波法检测 。

超高频检测法可有效检测GIS内部的由悬浮颗粒 、导体和壳体上的突起 、盆式绝缘子内部绝缘缺陷等原因引起的局部放电 。超高频传感器的检测频率范围 ：300MHz～1.5GHz ，由于检测频率高可有效的避免现场干扰 。

超声波检测法可以检测 、识别和定位GIS中的局部放电故障或振动的微粒 ，不需要预先在GIS上安装内部耦合器和传感器 。